CY3303 Infrarot-Kristall Silizium (Si-Kristall)

Katalog-Nr.	CY3303
Material	Si
Dichte	2,3291 g/cm3
Abmessungen	D3.0-300mm, Länge 150mm
Verfahren zur Herstellung	CZ-Verfahren
Orientierung	<111> <100> <110>
Klasse	Spiegelqualität, optische Qualität, Halbleiterqualität.

Infrarot-Kristallsilizium (Si-Kristall) wird als Laserscannerspiegel, SWIR/MWIR-Filter und IR-Sensorwafer verwendet. Stanford Advanced Materials (SAM) verfügt über reiche Erfahrung in der Herstellung und Lieferung hochwertiger optischer Produkte.

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Werkstoff	Si
Kristall-Typ	Kubisch, NaCl-Struktur
Dichte (g/cm3)	2.3291
Größe	D3.0-300mm, L150mm
Verfahren	CZ-Verfahren
Ausrichtung	<111> <100> <110>
Güteklasse	Spiegelqualität, optische Qualität, Halbleiterqualität.
Durchlässigkeitsbereich	52,5% bei 3-5um
Brechungsindex	3,42 @ 4um
Reflektionsverlust	46,1% bei 10 um
Schmelzpunkt	1414℃
Molekulargewicht	28.09
Härte (mohs)	1150 (Mohs 7)
Elastizitätsmodul	131GPa
Prüfung	ROHS, Transmissionskurve, spezifischer Widerstand, COC, COT, etc.
Spezifische Wärme	703,4J/(kg-K)

Werkstoff	Si
Kristall-Typ	Kubisch, NaCl-artige Struktur
Dichte (g/cm3)	2.3291
Größe	D3.0-300mm, L150mm
Verfahren	CZ-Verfahren
Ausrichtung	<111> <100> <110>
Güteklasse	Spiegelqualität, optische Qualität, Halbleiterqualität.
Durchlässigkeitsbereich	52,5% bei 3-5um
Brechungsindex	3,42 @ 4um
Reflektionsverlust	46,1% bei 10 um
Schmelzpunkt	1414℃
Molekulargewicht	28.09
Härte (mohs)	1150 (Mohs 7)
Elastizitätsmodul	131GPa
Prüfung	ROHS, Transmissionskurve, spezifischer Widerstand, COC, COT, etc.
Spezifische Wärme	703,4J/(kg-K)

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