{{flagHref}}
Produkte
  • Produkte
  • Kategorien
  • Blog
  • Podcast
  • Anwendung
  • Dokument
|
|
/ {{languageFlag}}
Sprache auswählen
Stanford Advanced Materials {{item.label}}
Stanford Advanced Materials
Sprache auswählen
Stanford Advanced Materials {{item.label}}
Bitte sprechen Sie

ST11217 Planares Target aus Titansilicid, TiSi2 Target

Katalog-Nr. ST11217
Zusammensetzung TiSi2
Reinheit ≥99,9%, oder kundenspezifisch
Formular Ziel
Formular Rechteckig
Abmessungen Kundenspezifisch

Das planare Titan-Silicid-Target (TiSi2-Target) ist ein Sputtertarget, das für die Abscheidung von Dünnschichten entwickelt wurde. Stanford Advanced Materials (SAM) wendet strenge Prozesskontrollen an, einschließlich Rasterelektronenmikroskopie und Röntgenbeugungsanalyse, um die mikrostrukturelle Konsistenz zu überwachen. Das Target wird mit einer kontrollierten Zusammensetzung hergestellt, um Defekte und die Freisetzung von Partikeln zu minimieren und einen gleichmäßigen Materialabtrag auf der Oberfläche während des Sputterns zu gewährleisten.

ANFRAGE
Zum Vergleich hinzufügen
Beschreibung
Spezifikation
Bewertungen

FAQ

Welche Faktoren beeinflussen die Gleichmäßigkeit des Films bei der Verwendung eines planaren Targets aus Titansilicid für das Sputtern?

Die planare Konfiguration und die kontrollierte Mikrostruktur tragen zu einem gleichmäßigen Abtrag auf der gesamten Oberfläche des Targets bei. Dies minimiert die Partikelbildung und gewährleistet eine gleichmäßige Dünnschichtabscheidung, vorausgesetzt, die Sputterbedingungen sind gut geregelt.

Welche Vorteile bietet die Anpassung der Targetabmessungen für Sputteranwendungen?

Kundenspezifische Abmessungen ermöglichen die Integration in verschiedene Sputtering-Systeme und erleichtern optimale Leistungsdichte und Kühlungskonfigurationen. Diese kundenspezifische Anpassung hilft dabei, eine gleichmäßige Schichtabscheidung zu erreichen und die Prozessparameter an die spezifischen Systemanforderungen anzupassen.

Welche Analysemethoden werden bei der Qualitätskontrolle dieser Targets eingesetzt?

Die Qualitätskontrolle umfasst die Bewertung der Oberflächenmorphologie mittels Rasterelektronenmikroskopie und Rasterkraftmikroskopie. Mit diesen Techniken wird die mikrostrukturelle Integrität überprüft und sichergestellt, dass nur minimale Defekte vorhanden sind, was für die Aufrechterhaltung der Konsistenz der Abscheidung entscheidend ist.

EIN ANGEBOT ANFORDERN

Senden Sie uns noch heute eine Anfrage, um mehr zu erfahren und die aktuellen Preise zu erhalten. Vielen Dank!

* Ihr Name
* Ihre E-Mail
* Produkt Name
* Ihr Telefon
* Land

Deutschland

    Kommentare
    Ich möchte mich in die Mailingliste eintragen, um Updates von Stanford Advanced Materials zu erhalten.
    Legen Sie Zeichnungen bei:

    Dateien hier ablegen oder

    * Code prüfen
    Accepted file types: PDF, png, jpg, jpeg. Upload multiple files at once; each file must be under 2MB.
    Hinterlassen Sie eine Nachricht
    Hinterlassen Sie eine Nachricht
    * Ihr Name:
    * Ihre E-Mail:
    * Produkt Name:
    * Ihr Telefon:
    * Kommentare: