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CY9506 Silizium-Wafer Typ P (100) Durchm. 1 Zoll, SSP

Katalog-Nr. CY9506
Material Silizium
Formular Kreis
Formular Wafer

Silizium-Wafer Typ P (100) Dia. 1 Zoll, SSP ist ein P-Typ, einseitig polierter Siliziumwafer mit einer (100) kristallographischen Orientierung und einem Durchmesser von 1 Zoll. Stanford Advanced Materials (SAM) setzt kontrollierte thermische Oxidation und Oberflächenmesstechnik, einschließlich Rasterkraftmikroskopie, zur Überwachung der Oberflächenebenheit und Fehlerdichte ein. SAM führt quantitative Inline-Qualitätskontrollen während des Czochralski-Produktionsprozesses durch. Auf diese Weise wird die Maßhaltigkeit und Materialhomogenität für Halbleiteranwendungen überprüft.

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