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CY9501 Quarzscheibe Durchm. 50,8 mm x 3,2 mm, poliert

Katalog-Nr. CY9501
Material Quarz
Formular Kreis
Formular Scheibe

Quarzscheibe Dia. 50,8 mm x 3,2 mm, poliert ist ein Quarzsubstrat mit kontrollierten Abmessungen und einer glatten, reflektierenden Oberflächenbeschaffenheit. Stanford Advanced Materials (SAM) wendet kalibrierte Polier- und messtechnische Prüfverfahren an, einschließlich optischer Interferometrie, um die Ebenheit und Gleichmäßigkeit der Oberfläche zu überwachen. Dieser Prozess minimiert mikrostrukturelle Diskrepanzen und sorgt für eine strikte Einhaltung der Standardtoleranzen für Halbleiter. Die SAM-Methode legt den Schwerpunkt auf detaillierte prozessbegleitende Prüfungen und abschließende Qualitätskontrollen, um sicherzustellen, dass das Produkt die strengen industriellen Kriterien erfüllt.

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