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CY9496 Ultraflacher Silizium-Wafer P-Typ, Dia. 6 Zoll x 675 μm dick

Katalog-Nr. CY9496
Material Si
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Ultraflacher Silizium-Wafer P-Typ, Dia. 6 Zoll x 675 μm dick, wird mit strenger Kontrolle über Dotierung und Planarisierung hergestellt. Stanford Advanced Materials (SAM) setzt fortschrittliche Techniken ein, darunter chemisch-mechanisches Polieren und interferometrische Oberflächenmessung, um einen einheitlichen und glatten Wafer zu erhalten. Der Produktionsprozess umfasst eine Inline-Messtechnik zur Überwachung der Gleichmäßigkeit der Dicke und der Oberflächenebenheit. Diese strenge Qualitätskontrolle ist für die Kompatibilität der Halbleiterprozesse und die moderne Materialforschung von entscheidender Bedeutung.

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