CY9473 Nickel-Einkristall-Substrat Ni-Substrat (110), Durchm. 30 mm x1 mm, SSP

Nickel-Einkristall-Substrat Ni-Substrat (110), Durchm. 30 mm x1 mm, SSP Beschreibung

Nickel-Einkristall-Substrat Ni-Substrat (110), Durchm. 30 mm x1 mm, SSP wird aus hochreinem Nickel mit einer einheitlichen (110) kristallographischen Ausrichtung hergestellt. Der definierte Durchmesser von 30 mm und die Dicke von 1 mm ermöglichen die Kompatibilität mit Standard-Epitaxieanlagen. Seine atomar flache Oberfläche ermöglicht ein genaues Schichtwachstum und eine reproduzierbare Qualität der Grenzflächen und trägt so zu systematischen Studien in der Materialwissenschaft und der Entwicklung von Halbleiterprozessen bei.

Nickel-Einkristall-Substrat Ni-Substrat (110), Dia. 30 mm x1 mm, SSP Anwendungen

Elektronik- und Halbleiteranwendungen
- Wird als Substrat bei der epitaktischen Schichtabscheidung für Halbleiterbauelemente verwendet, um durch die kontrollierte (110)-Ausrichtung ein gleichmäßiges Kristallwachstum zu erzielen.
- Verwendung als Referenzplattform bei der Integration auf Waferebene zur Minimierung von Schnittstellenabweichungen durch Nutzung der gleichmäßigen Oberflächenmorphologie.

Industrielle und wissenschaftliche Forschungsanwendungen
- Einsatz als Kalibrierungssubstrat in kristallographischen Studien zur Erzielung präziser Beugungsergebnisse durch Ausnutzung der Einkristallstruktur.
- Einsatz in der Sensorentwicklung zur Verbesserung der Signalintegrität durch Ausnutzung der defektminimierten Oberfläche.

Nickel-Einkristall-Substrat Ni-Substrat (110), Durchm. 30 mm x1 mm, SSP-Verpackung

Das Substrat ist in einem antistatischen Behälter mit Schaumstoffeinlagen gesichert, um Stöße zu absorbieren und mechanische Beschädigungen zu verhindern. Reinraumtaugliche Umhüllung und versiegelte Verpackung verringern das Risiko einer Kontamination während des Transports und der Lagerung. Es wird empfohlen, das Substrat in einer temperatur- und feuchtigkeitskontrollierten Umgebung zu lagern, um seine Oberfläche und kristallographischen Eigenschaften zu erhalten. Kundenspezifische Verpackungsoptionen mit spezifischer Beschriftung sind auf Anfrage erhältlich.

Häufig gestellte Fragen

Q1: Welche Bedeutung hat die (110)-Orientierung bei diesem Substrat?
A1: Die (110)-Orientierung bietet eine definierte atomare Anordnung, die ein reproduzierbares epitaktisches Filmwachstum und gleichbleibende Oberflächeneigenschaften ermöglicht. Röntgenbeugungsmessungen bestätigen die Orientierung, wodurch sich das Substrat für detaillierte kristallografische Studien eignet.

F2: Wie sollte dieses Substrat gelagert werden, um seine Integrität zu erhalten?
A2: Um die Unversehrtheit des Substrats zu erhalten, sollte es in einer kontrollierten Umgebung mit geregelter Temperatur und Luftfeuchtigkeit gelagert werden. Verwenden Sie eine antistatische Verpackung und minimieren Sie die mechanische Belastung während der Handhabung, um Oberflächenschäden und Verunreinigungen zu vermeiden.

F3: Bietet SAM technische Unterstützung für die Integration dieses Substrats in Prozessabläufe?
A3: SAM bietet technische Unterstützung, einschließlich einer umfassenden Charakterisierung mit SEM und AFM, um sicherzustellen, dass das Substrat die spezifischen Prozessanforderungen erfüllt. Das Fachwissen von SAM erleichtert die Integration in verschiedene Fertigungsabläufe und gewährleistet eine reibungslose Prozessübernahme.

Zusätzliche Informationen

Nickel-Einkristallsubstrate sind eine wichtige Ressource in der materialwissenschaftlichen Forschung, da sie gut definierte kristallografische Orientierungen bieten, die für systematische Studien des epitaktischen Wachstums unerlässlich sind. Ihre kontrollierte Struktur trägt dazu bei, die Lücke zwischen Grundlagenforschung und industrieller Anwendung zu schließen, insbesondere bei Halbleitern und in der Oberflächenphysik.

Das Verständnis der Rolle der kristallographischen Orientierung bei der Bestimmung des Materialverhaltens ist von zentraler Bedeutung für die Optimierung der Verfahren zur Herstellung von Bauelementen. Solche Substrate ermöglichen es den Forschern, die strukturellen Eigenschaften mit der elektronischen Leistung zu korrelieren, was zu Fortschritten in der Sensortechnologie und bei Dünnschichtabscheidungsmethoden beiträgt.