CY9446 Kupfer-Einkristall-Substrate Cu-Substrat (100), 5x5x1 mm, SSP

Kupfer-Einkristallsubstrate Cu-Substrat (100), 5x5x1 mm, SSP Beschreibung

Dieses Kupfer-Einkristallsubstrat wird mit einer präzisen kristallographischen Ausrichtung (100) hergestellt und hat die Abmessungen 5x5x1 mm. Seine gleichmäßige Kristallstruktur unterstützt hochauflösende Anwendungen, die auf minimale Korngrenzen und reduzierte Elektronenstreuung angewiesen sind. Der gut kontrollierte thermische Verlauf und der geringe Defektgehalt des Substrats verbessern seine Leistung in Umgebungen, in denen die Einhaltung der Materialintegrität entscheidend ist. Die Messungen werden durch fortschrittliche Beugungs- und Oberflächencharakterisierungsmethoden verifiziert.

Kupfer-Einkristall-Substrate Cu-Substrat (100), 5x5x1 mm, SSP-Anwendungen

Elektronik
- Verwendung als Verbindungsmedium in mikroelektronischen Schaltkreisen zur Minimierung von Signalinterferenzen durch Ausnutzung der geringen Elektronenstreuungseigenschaften.
- Wird als Basis für fortschrittliche Sensorgeräte verwendet, um die Leitfähigkeit und strukturelle Einheitlichkeit zu verbessern und die thermische Drift zu verringern.

Industriell
- Verwendung als Wärmeableitungskomponente in Hochleistungsschaltkreisen zur Bewältigung thermischer Belastungen durch Nutzung einer einheitlichen Kristallausrichtung.
- Wird als Substrat in Präzisionsfertigungsprozessen für Hochfrequenzkomponenten verwendet, um die elektrische und mechanische Stabilität zu erhalten.

Kupfer-Einkristall-Substrate Cu-Substrat (100), 5x5x1 mm, SSP-Verpackung

Die Substrate sind in antistatischen, gepolsterten Trägern verpackt, um mechanische Stöße und Verunreinigungen zu vermeiden. Jedes Substrat ist in einem feuchtigkeitsbeständigen Beutel versiegelt und wird in einem temperaturgeregelten Behälter gelagert. Das Verpackungssystem enthält eine Trockenmittelschicht, um die Luftfeuchtigkeit zu regulieren. Kundenspezifische Beschriftungs- und Unterteilungsoptionen sind verfügbar, um spezifische Lager- und Versandanforderungen zu erfüllen und gleichzeitig die Materialintegrität zu gewährleisten.

Häufig gestellte Fragen

Q1: Welchen Einfluss hat die kristallografische Ausrichtung (100) auf die Leistung des Substrats?
A1: Die (100)-Orientierung fördert den gleichmäßigen Elektronentransport und minimiert die Grenzflächenstreuung. Dies führt zu stabilen leitenden Eigenschaften und einem verbesserten thermischen Verhalten, was für elektronische Hochleistungsanwendungen entscheidend ist.

F2: Wie wird die Defektdichte bei der Herstellung kontrolliert?
A2: Der Produktionsprozess umfasst ein strenges thermisches Ausglühen und eine Röntgenbeugungsanalyse. Diese Maßnahmen tragen dazu bei, Versetzungen und Einschlüsse zu erkennen und zu reduzieren, so dass das Material die strengen Leistungskriterien erfüllt.

F3: Können die Abmessungen des Substrats für spezielle Anwendungen angepasst werden?
A3: Die Standardabmessungen sind 5x5x1 mm, aber SAM bietet auch kundenspezifische Anpassungen auf der Grundlage spezifischer technischer Anforderungen an. Kunden wird empfohlen, ihre Bedürfnisse mit dem technischen Support zu besprechen, um mögliche Modifikationen zu besprechen.

Zusätzliche Informationen

Einkristallsubstrate aus Kupfer sind für Präzisionsanwendungen unverzichtbar, bei denen die Kontrolle der kristallographischen Ausrichtung direkte Auswirkungen auf die elektronische und thermische Leistung hat. Diese Substrate unterstützen Untersuchungen zu Kristallzüchtungstechniken und ermöglichen die Entwicklung von Materialien mit maßgeschneiderten Leiteigenschaften. Durch Fortschritte bei den Herstellungstechniken wird die Kontrolle der Korngrenzen und der Defektdichte weiter verfeinert, was zu einer verbesserten Leistung in einer Reihe von hochpräzisen Forschungs- und Industrieanwendungen führt.

Die Untersuchung von Kupferkristallsubstraten steht auch im Zusammenhang mit allgemeineren Aspekten der Herstellung von Halbleiterbauelementen und der Materialcharakterisierung. Die Forscher untersuchen häufig die Zusammenhänge zwischen kristallografischer Orientierung und physikalischen Eigenschaften und tragen so zu verbesserten Methoden bei der Versuchsplanung und Qualitätssicherung in der Materialwissenschaft bei.