CY9438 Silber-Einkristall-Substrat Ag-Kristall-Substrat (111), 5x5x0,5 mm, SSP

Silber-Einkristallsubstrat Ag-Kristallsubstrat (111), 5x5x0,5 mm, SSP Beschreibung

Das Silber-Einkristallsubstrat hat eine kristallografische Ausrichtung (111) und präzise Abmessungen von 5 mm x 5 mm x 0,5 mm. Seine einkristalline Struktur gewährleistet eine einheitliche Oberfläche, die genaue Grenzflächenstudien und Dünnschichtabscheidungen unterstützt. Die Überprüfung durch Röntgenbeugung und Elektronenmikroskopie bestätigt seine strukturelle Integrität, wodurch es sich für mikroelektronische und materialwissenschaftliche Experimente eignet.

Silber-Einkristall-Substrat Ag-Kristall-Substrat (111), 5x5x0,5 mm, SSP Anwendungen

Elektronik
- Verwendung als leitende Schicht in Halbleiterverbindungstests zur Erzielung niederohmiger Pfade durch Ausnutzung seiner gleichmäßigen elektrischen Eigenschaften.

Industrielle Forschung
- Einsatz als Substrat in Studien zur Dünnschichtabscheidung zur Verbesserung der Gleichmäßigkeit der Schicht und zur Unterstützung der systematischen Oberflächenanalyse durch Ausnutzung der definierten kristallografischen Ausrichtung.

Analytische Instrumente
- Wird als Kalibrierungsstandard in Beugungsgeräten verwendet, um die Genauigkeit der Winkelauflösung durch die präzise Ausrichtung der (111)-Ebene zu bestätigen.

Silber-Einkristallsubstrat Ag-Kristallsubstrat (111), 5x5x0,5 mm, SSP-Verpackung

Das Substrat ist einzeln in einem antistatischen Behälter mit Schaumstoffpolsterung verpackt, um mechanische Belastungen und Verunreinigungen zu verringern. Es wird in inertem Verpackungsmaterial versiegelt und bei kontrollierter Temperatur und Luftfeuchtigkeit gelagert, um Oxidation zu verhindern. Kundenspezifische Verpackungsoptionen, wie z. B. beschriftete Fächer und zusätzliche Schutzschichten, sind erhältlich, um speziellen Anforderungen an die Handhabung und Lagerung im Labor gerecht zu werden.

Häufig gestellte Fragen

Q1: Wie wird die (111)-Ausrichtung des Substrats überprüft?
A1: Die (111)-Ausrichtung wird durch eine kalibrierte Röntgenbeugungsanalyse bestätigt und durch Elektronenmikroskopie untermauert, um sicherzustellen, dass die Ausrichtung der Kristallebene den experimentellen Spezifikationen entspricht.

F2: Welche Maßnahmen zur Kontaminationskontrolle werden während der Herstellung durchgeführt?
A2: Der Herstellungsprozess erfolgt in einer Reinraumumgebung mit gefilterter Luft und inerten Atmosphären. Nach der Herstellung wird die Oberfläche elektronenmikroskopisch untersucht, um Verunreinigungen durch Partikel zu erkennen und zu minimieren.

F3: Ist es möglich, die Abmessungen des Substrats für spezifische Forschungsanforderungen zu ändern?
A3: Die Anpassung der Abmessungen erfordert eine Neukalibrierung des Prozesses. Eine Abstimmung mit dem technischen Personal von SAM ist erforderlich, um die Machbarkeit zu beurteilen, da sich Änderungen auf die Kristallwachstumsbedingungen und die nachfolgenden Qualitätskontrollparameter auswirken können.

Zusätzliche Informationen

Einkristalline Silbersubstrate spielen eine wichtige Rolle bei fortgeschrittenen Materialstudien, insbesondere bei der Untersuchung von Oberflächenphänomenen, Elektronentransport und Dünnschichtabscheidung. Ihre gut definierten kristallographischen Orientierungen sind für kontrollierte Versuchsaufbauten in verschiedenen angewandten Forschungsszenarien unerlässlich.

Das Verständnis der inhärenten Eigenschaften von Silber und des Einflusses der Kristallstruktur ist in der Materialwissenschaft von entscheidender Bedeutung. Umfassende Charakterisierungstechniken wie Röntgenbeugung, Rasterelektronenmikroskopie und Rasterkraftmikroskopie werden routinemäßig eingesetzt, um sicherzustellen, dass das Substrat die spezifischen Forschungsanforderungen in der Elektronik und verwandten Bereichen erfüllt.