CY9436 Silber-Einkristall-Substrat Ag-Kristall-Substrat (110), 10x10x0,5 mm, SSP

Silber-Einkristallsubstrat Ag-Kristallsubstrat (110), 10x10x0,5 mm, SSP Beschreibung

Bei diesem Produkt handelt es sich um ein hochreines Silber-Einkristallsubstrat mit der kristallographischen Orientierung (110), das 10 mm mal 10 mm groß und 0,5 mm dick ist. Seine definierten Abmessungen ermöglichen die Kompatibilität mit Standardgeräten, die bei der Materialcharakterisierung und der Entwicklung von Halbleiterprozessen verwendet werden. Die gut kontrollierte kristalline Struktur minimiert Korngrenzeneffekte und unterstützt fortschrittliche Oberflächenbehandlungen. Die Qualität wird mit Hilfe von REM- und Röntgenbeugungsanalysen überprüft, um die Konsistenz der Kristallorientierung und die Gleichmäßigkeit der Oberfläche sicherzustellen.

Silber-Einkristallsubstrat Ag-Kristallsubstrat (110), 10x10x0,5 mm, SSP Anwendungen

1. in der Elektronik- und Halbleiterforschung
- Verwendung als Testplattform bei der Halbleiterherstellung zur Erzielung einheitlicher elektrischer Eigenschaften durch Ausnutzung der gut definierten kristallographischen Ausrichtung.
- Anwendung als Substrat in Dünnschichtabscheidungsprozessen zur Untersuchung der Metallhaftung und Keimbildung aufgrund der glatten, einkristallinen Oberfläche.

2. industrielle Materialcharakterisierung
- Dient als Kalibrierungsprobe bei Beugungsexperimenten zur Bewertung der Kristallqualität. Die präzise (110)-Orientierung hilft bei der genauen Messung der Gitterparameter.
- Wird häufig in Korrosions- oder Verschleißstudien verwendet, bei denen die reine Silberstruktur als einheitliches Referenzmaterial dient.

Silber-Einkristallsubstrat Ag-Kristallsubstrat (110), 10x10x0,5 mm, SSP-Verpackung

Das Substrat ist in einem statisch ableitenden, kratzfesten Behälter verpackt, der mit Schaumstoff ausgekleidet ist, um es vor mechanischen Stößen zu schützen. Es ist in einem versiegelten, feuchtigkeitsbeständigen Beutel eingeschlossen, um Kontamination und Oxidation zu verhindern. Die Lagerungsanweisungen empfehlen eine saubere, trockene und temperaturkontrollierte Umgebung. Kundenspezifische Verpackungsoptionen, einschließlich zusätzlicher Polsterung und Beschriftung, sind auf Anfrage erhältlich.

Häufig gestellte Fragen

Q1: Wie beeinflusst die kristallografische Ausrichtung (110) die Leistung des Substrats?
A1: Die (110)-Orientierung erleichtert spezifische Oberflächenenergieprofile, die eine gleichmäßige Schichtabscheidung und eine konsistente Keimbildung in Dünnschichtprozessen unterstützen und ein vorhersehbares Verhalten bei der Materialprüfung und -charakterisierung gewährleisten.

F2: Welche Prüfverfahren werden zur Überprüfung der Qualität des Substrats eingesetzt?
A2: Das Substrat wird einer REM- und Röntgenbeugungsanalyse unterzogen, um die kristallografische Ausrichtung und die Gleichmäßigkeit der Oberfläche zu überprüfen. Mit diesen Verfahren lassen sich Oberflächenfehler und strukturelle Unstimmigkeiten erkennen und quantifizieren.

F3: Kann dieses Substrat in Hochtemperatur-Verarbeitungsumgebungen eingesetzt werden?
A3: Die kontrollierte Zusammensetzung und die Einkristallstruktur ermöglichen die Aufrechterhaltung der Stabilität unter mäßigen thermischen Bedingungen, wie sie für die Forschung typisch sind. Die spezifischen Temperaturgrenzen sollten jedoch auf der Grundlage der vorgesehenen Prozessparameter beurteilt werden.

Zusätzliche Informationen

Silbersubstrate werden in der Materialwissenschaft sowohl für die Grundlagenforschung als auch für angewandte Studien in großem Umfang eingesetzt. Die kontrollierte Synthese von einkristallinem Silber führt direkt zu einer verbesserten Einheitlichkeit der physikalischen Eigenschaften und macht solche Substrate zu einem zentralen Element bei Experimenten, die präzise Oberflächenanalysen erfordern.
Das Verständnis der Wechselwirkung zwischen kristalliner Struktur und Materialverhalten ist von entscheidender Bedeutung. Untersuchungen der Korngrenzen, der Oberflächenmorphologie und der Elektronenstreuung in Silbersubstraten tragen dazu bei, die Entwicklung der nächsten Stufe von Versuchsgeräten in der Elektronik und Sensorik voranzutreiben.