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CY8527 Siliziumdioxid (SiO2) Quarz-Einkristall-Substrat Z-Schliff (0001) 10x10x0,5 mm

Katalog-Nr. CY8527
Material Siliziumdioxid
Formular Quadratisch

Bei Stanford Advanced Materials (SAM) zeichnen wir uns durch die Bereitstellung fortschrittlicher Materiallösungen für die High-Tech-Industrie weltweit aus. Unser Quarz-Einkristall-Substrat aus Siliziumdioxid (SiO2), das sorgfältig mit einer Z-Ebenen-Ausrichtung (0001) auf 10×10×0,5 mm geschnitten wird, gewährleistet eine stabile Leistung für optische, Halbleiter- und Forschungsanwendungen. Mit strengen Qualitätskontrollen, Präzisionstechnik und bewährter Zuverlässigkeit bieten die Substrate von SAM eine hervorragende Konsistenz und thermische Belastbarkeit. Von der Forschung und Entwicklung bis zur Großserienproduktion widmet sich unser Expertenteam den strengen Anforderungen der modernen Technologie und stärkt unseren Ruf als zuverlässiger Partner für fortschrittliche Materiallösungen.

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