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CY8521 Siliziumdioxid (SiO2) Quarz-Einkristall-Substrat X-Schliff (11-20) 10x10x0,5 mm

Katalog-Nr. CY8521
Material Siliziumdioxid
Formular Quadratisch

Stanford Advanced Materials (SAM) ist ein führender Anbieter von hochmodernen Materiallösungen und bietet beispiellose Zuverlässigkeit und Kompetenz. Unser Siliziumdioxid (SiO2) Quarz-Einkristall-Substrat X-cut (11-20) mit einer Abmessung von 10x10x0,5 mm wurde sorgfältig entwickelt, um in der Forschung und in der High-Tech-Fertigung hervorragende Leistungen zu erbringen. Mit jahrzehntelanger Erfahrung wendet SAM strenge Qualitätskontrollen und präzise Herstellungsprozesse an, um stabile, konsistente Eigenschaften zu gewährleisten, die für optische, elektronische und photonische Anwendungen entscheidend sind. Arbeiten Sie mit SAM zusammen, um innovative Materiallösungen zu erhalten, die die nächste Generation fortschrittlicher Technologien vorantreiben.

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