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CY11157 Titan-Nitrid (TiN)-beschichtete Silizium-Wafer

Katalog-Nr. CY11157
Material TiN, Silizium
Reinheit TiN: ≥99,995%
Formular Substrat

Titanium Nitride (TiN) Coated Silicon Wafer werden mit kontrollierten Abscheidetechniken hergestellt, um eine gleichmäßige und konsistente TiN-Schicht auf Siliziumsubstraten zu erhalten. Stanford Advanced Materials (SAM) verwendet fortschrittliche Sputter- und Oberflächenmesstechniken, einschließlich REM-Analyse, zur Überwachung der Schichtdicke und Gleichmäßigkeit. Dieser Ansatz minimiert die Prozessvariabilität und gewährleistet, dass der Wafer Leistungsparameter erreicht, die für anspruchsvolle Halbleiteranwendungen geeignet sind.

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FAQ

Wie wird die Dicke der TiN-Schicht während des Beschichtungsprozesses kontrolliert?

Die TiN-Schicht wird durch Sputtering mit In-situ-Überwachung zur Regulierung der Schichtdicke aufgebracht. Durch dieses Verfahren wird die Gleichmäßigkeit auf mikroskopischer Ebene aufrechterhalten, so dass die Beschichtung gut haftet und den spezifischen Anwendungsanforderungen in Halbleitergeräten entspricht.

Welche Maßnahmen werden ergriffen, um die Qualität der Substratoberfläche vor der Beschichtung sicherzustellen?

Der Siliziumwafer durchläuft strenge Oberflächenreinigungs- und Vorbehandlungsprozesse, um Verunreinigungen zu entfernen. Die Oberflächenqualität wird mit fortschrittlichen Messinstrumenten überprüft, um sicherzustellen, dass die TiN-Schicht optimal haftet und Defekte, die die Leistung des Geräts beeinträchtigen könnten, minimiert werden.

Ist das TiN-Beschichtungsverfahren mit Standard-Halbleiterfertigungsanlagen kompatibel?

Ja, das TiN-Beschichtungsverfahren ist so konzipiert, dass es in herkömmliche Halbleiterfertigungslinien integriert werden kann. Die kontrollierten Abscheidungsparameter und die Standardsubstratabmessungen erleichtern die Einbindung in bestehende Produktionsabläufe mit minimalen Anpassungen.

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