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AL10276 Saphirplättchen Al2O3 (0001) Durchm. 4 Zoll x 0,5 mm

Katalog-Nr. AL10276
Material Al2O3
Größe Dia. 4 Zoll x 0,5 mm

Saphir-Wafer Al2O3 (0001) Dia. 4 Zoll x 0,5 mm wird aus hochreinem Aluminiumoxid mit einer kontrollierten (0001) kristallographischen Ausrichtung hergestellt. Stanford Advanced Materials (SAM) setzt fortschrittliche CVD-Methoden und Oberflächeninspektion durch REM-Analyse ein, um die Gitterstruktur und Defektdichte zu überwachen. Mit diesen Verfahren wird die Maßhaltigkeit und strukturelle Einheitlichkeit überprüft, um sicherzustellen, dass die Wafer den technischen Anforderungen von Halbleiter- und optischen Anwendungen entsprechen.

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