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  • Chiraler Ausnahmepunkt und kohärente Unterdrückung der Rückstreuung in Silizium-Mikrospiegeln mit verlustarmen Mie-Streuern

    • Chiraler Ausnahmepunkt und kohärente Unterdrückung der Rückstreuung in Silizium-Mikrospiegeln mit verlustarmen Mie-Streuern

    Titel Chiraler Ausnahmepunkt und kohärente Unterdrückung der Rückstreuung in Silizium-Mikrospiegeln mit verlustarmen Mie-Streuern
    Autoren Hwaseob Lee, Ali Kecebas, Feifan Wang, Lorry Chang, Sahin K. Özdemir, Tingyi Gu
    Zeitschrift eLight
    Datum 09/04/2023
    DOI 10.1186/s43593-023-00043-5
    Einführung Außergewöhnliche Punkte (EP) in nicht-hermiteschen Systemen sind von zentraler Bedeutung für die Lasertechnik, die Steuerung des Lichttransports und die Verbesserung von Sensoren. Traditionell werden EP in Ringresonatoren mit Nanospitzen erreicht, aber das Verständnis der Auswirkungen der Nanospitzen auf die Symmetrie und den Streuverlust ist begrenzt. Hier werden mit definierten Mie-Streuern EPs erreicht, die einen chiralen Lichttransport und eine Unterdrückung der Rückstreuung ermöglichen und so die Qualitätsfaktoren verbessern. Diese Plattform ist entscheidend für stabile Resonanzanwendungen wie Frequenzkämme und nichtlineare Optik.
    Zitat Hwaseob Lee, Ali Kecebas und Feifan Wang et al. Chiral exceptional point and coherent suppression of backscattering in silicon microring with low loss Mie scatterer. eLight. 2023. Vol. 3(1). DOI: 10.1186/s43593-023-00043-5
    Element Silizium (Si)
    Industrie Optik
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