Analytische Dienstleistungen

Stanford Advanced Materials (SAM) bietet umfassende analytische Dienstleistungen an, einschließlich Dimensionsprüfung, Prüfung der elektrischen Leitfähigkeit und Korngrößenbestimmung. Unser fortschrittliches Labor ist mit hochmodernen Geräten für Tests wie GDMS, ICP-MS und ICP-OES ausgestattet.

Darüber hinaus bieten wir Prüfungen der mechanischen Eigenschaften mittels SEM, TEM und Röntgenbeugungsanalyse (XRD) an, die einen präzisen Einblick in das Materialverhalten ermöglichen. SAM ist Ihr zuverlässiger Partner für verlässliche Prüf- und Analysedienstleistungen und setzt sich für Qualität und Genauigkeit ein.

VOLLSTÄNDIGE LISTE DER DIENSTLEISTUNGEN

Prüfung der Abmessungen

Die Maßprüfung gewährleistet eine präzise Messung und Überprüfung der Bauteilabmessungen, um die genauen Spezifikationen zu erfüllen.

Prüfung der elektrischen Leitfähigkeit

Bei der Prüfung der elektrischen Leitfähigkeit wird die Fähigkeit von Materialien gemessen, elektrischen Strom zu leiten, um eine optimale Leistung bei elektrischen Anwendungen zu gewährleisten.

GDMS

GDMS (Glimmentladungs-Massenspektrometrie) bietet eine präzise Elementaranalyse fester Materialien, bei der Spuren- und Mengenelemente für die Qualitätskontrolle und Materialprüfung nachgewiesen werden.

Bestimmung der Korngröße

Bei der Bestimmung der Korngröße wird die Mikrostruktur von Materialien analysiert, um die Korngröße zu bestimmen, die sich auf die Festigkeit und Leistung des Materials auswirkt.

ICP-MS

ICP-MS (induktiv gekoppelte Plasmamassenspektrometrie) ist eine hochempfindliche Technik zum Nachweis und zur Quantifizierung von Spurenelementen in verschiedenen Materialien.

ICP-OES

ICP-OES (Inductively Coupled Plasma Optical Emission Spectroscopy) ist eine Technik zur präzisen Detektion und Analyse mehrerer Elemente in einer Probe durch Lichtemission.

Mechanische Eigenschaften

Bei der Prüfung der mechanischen Eigenschaften werden die Festigkeit, Elastizität, Härte und Haltbarkeit eines Materials bewertet, um sicherzustellen, dass es die Leistungsanforderungen erfüllt.

SEM

Die Rasterelektronenmikroskopie (REM) ermöglicht eine detaillierte Abbildung von Materialoberflächen bei hohen Vergrößerungen für eine präzise Strukturanalyse.

TEM

Die TEM (Transmissionselektronenmikroskopie) bietet eine hochauflösende Darstellung von Materialstrukturen auf atomarer Ebene für eine eingehende Analyse.

Röntgenbeugungsanalyse (XRD)

Die Röntgenbeugungsanalyse (XRD) identifiziert die kristalline Struktur von Materialien und gibt Aufschluss über die Phasenzusammensetzung und die Materialeigenschaften.

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