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    • Mikroskopische Relaxationskanäle in Materialien für supraleitende Qubits

    Titel Mikroskopische Relaxationskanäle in Materialien für supraleitende Qubits
    Autoren Anjali Premkumar, Conan Weiland, Sooyeon Hwang, Berthold Jäck, Alexander P. M. Place, Iradwikanari Waluyo, Adrian Hunt, Valentina Bisogni, Jonathan Pelliciari, Andi Barbour, Mike S. Miller, Paola Russo, Fernando Camino, Kim Kisslinger, Xiao Tong, Mark S. Hybertsen, Andrew A. Houck, Ignace Jarrige
    Zeitschrift Kommunikationsmaterialien
    Datum 07/01/2021
    DOI 10.1038/s43246-021-00174-7
    Einführung Die Studie befasst sich mit der großen Herausforderung, die Materialfehler bei der Anwendung von supraleitenden Qubits darstellen. Durch die Korrelation der Relaxationszeiten von Transmon-Qubits mit den Eigenschaften polykristalliner Niob-Filme werden Zusammenhänge zwischen der Kohärenz von Qubits und intrinsischen Filmeigenschaften wie Korngröße, Sauerstoffdiffusion entlang der Korngrenzen und Oberflächensuboxidkonzentration aufgezeigt. Schichten, die mit unterschiedlichen Methoden abgeschieden wurden, zeigen, wie diese Faktoren die Leistung des Qubits beeinflussen. Es gibt Hinweise darauf, dass Defekte im Zwei-Niveau-System in Korngrenzen und Oberflächenoxiden liegen können. Das Restwiderstandsverhältnis der Filme erweist sich als Maßstab für die Bewertung der Langlebigkeit von Qubits und ebnet den Weg für die Steigerung der Leistung supraleitender Qubits durch Materialverbesserungen.
    Zitat Anjali Premkumar, Conan Weiland und Sooyeon Hwang et al. Mikroskopische Relaxationskanäle in Materialien für supraleitende Qubits. Commun Mater. 2021. Vol. 2(1). DOI: 10.1038/s43246-021-00174-7
    Element Niobium (Nb) , Sauerstoff (O)
    Materialien Metalle und Legierungen , Oxide
    Themen Abscheidungsprozesse
    Industrie Elektronik
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